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企业难题需求
公开号: US2008125915A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:控制和材料分析
专利名:通过中值采样法测量处理器温度
摘要:对计算机从被监控电路元件出得到的温度读数进行至少三次采样,然后这三个参数的平均值而不是其算术平均被用来控制设备,例如风扇,使之对环境参数进行调节,例如温度,受控电路元件的位置。例如当带有CPU的系统要读取CPU温度的时候,温度监控系统就需要获得三次连续的CPU温度读数,它自动剔除最高值和最低值,返回中间值,这个中间值被用来控制设备调整CPU所处位置的温度,进而达到更精确的温度读数和风扇控制。在不同的应用中,可以考虑每次读取多于三次的采样值,并且在通过许多方法获得的平均值基础上计算平均值以获取控制温度的温度控制值。
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