公开号：	US2008122524A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	复合阈值电压应用中减小阈值电压公差及偏移的方法和实现电路
摘要：	这是一种调整集成电路性能的电路和方法，该电路包括：第一个和第二个FET装置，它们有各自的第一个和第二个阈值电压，两个阈值电压是不相同的；第一个监控电路包含第二组FET中的至少一个FET；比较电路根据第一个和第二个监控电路的性能测试来产生比较信号；控制电路根据比较信号产生控制稳压器的控制信号；稳压器提供第二组FET的势阱偏置电压，偏置电压的值是根据控制信号决定的。