公开号：	US2006242503A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	集成电路测试系统
摘要：	使用一种算法压缩的测试图可以允许一个大规模集成电路每个管脚实时数据扩展存储在一个测试图像发射器的图像存储器中。帧处理器通过软件按照预定程序执行对测试图像发射器输出的一幅测试图像进行扩展，并且基于扩展数据生成一个脉冲波形，最后输出这个脉冲波形。