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企业难题需求
公开号: US2006244451A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:测量
专利名:填隙磁共振成像仪及填隙方法
摘要: 在使用磁共振仪器对不规则物体的检测的填隙方法中,磁场参数的测量是在位于不规则待测物体的表面的测量点上进行。依据测量的磁场参数,可以计算出用来使用被动填隙法调整磁场均匀性的薄垫片的位置和数量,或者计算出使用主动填隙法的垫片线圈的当前值,或者当两种方法同时使用时计算出这两种结果。根据计算结果填隙开始起作用。上述步骤一直被重复执行直到获得了需要的磁场均匀性。由于这种均匀区域有一个不规则的外形,它能对待测不规则物体提供更好的覆盖范围,同时它可以减少待测不规则物体外部不必要区域的填隙系统规定参数,这样就避免了在不必要区域的填隙。
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