公开号：	US2006109025A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	阵列基板的测试方法
摘要：	本发明提出了一种阵列基板的测试方法，它包含第一测量步骤，操作一个行电极驱动电路15和一个列电极驱动电路16，像一个正常的显示模式一样从一个补偿电容13读入或输出测试视频信号；然后是第二测量步骤，从视频总线读入或输出测试视频信号，同时使一个像素单元的薄膜晶体管和一个行电极驱动电路的模拟开关保持断开。两个测量步骤结果的差异在没有驱动组件的情况下只允许一个像素单元和一个行电极驱动电路被驱动，因此就可以分辨出像素的缺陷部分。