公开号：	US2007257660A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	使用合成工具的快速扫频测量器
摘要：	一个用于扫频测量器的合成测量系统，有时钟同步设备来测试验电箱和设备，当进行扫频测试时能够有时间常识，从而形成合成测试系统。