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企业难题需求
公开号: US2007150079A1
大类:国外
行业类型:仪器
行业内分类:控制和材料分析
专利名: 加工设备自检测过程控制回路
摘要: 一个诊断自适应过程控制回路的方法包括测量过程控制回路信号数据,通过过程回路信号数据产生多个过程控制回路参数,并且通过一个或多个过程控制回路参数评估自适应过程控制回路的情况。当自适应过程控制回路在线连接在过程控制环境中,该过程控制回路数据的产生是由于自适应过程控制回路中一个或多个过程控制装置。一个自诊断过程控制回来包括一个诊断工具,用于接收与过程控制回路每一个组件和整个过程控制回路的过程控制回来参数相关的诊断指标。每一个诊断指标由相应的指标计算工具通过信号数据产生。诊断工具还可用于从一个或多个诊断指标来评估过程控制回路的情况。
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