公开号：	US2007150217A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	低压检测装置和低压检测方法
摘要：	阈值作为一个判断半导体装置电源压降的参考被注册为数字数据，与电源电压幅度相关的检测数据通过进行电源电压模/数转换输出，将阈值与检测数据相比较，并且输出一个控制信号根据比较结果控制是否将应半导体装置设置到初始状态。