公开号：	US2007152839A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	控制和材料分析
专利名：	使用光学检测器来检测损耗的系统和方法
摘要：	光学反损耗系统包括至少一个位于起落架上的光源阵列，至少一个位于起落架上的感光性原件阵列。感光性元件阵列可以与警报进行通信。当增长的光水平被至少一个感光性元件阵列所检测到，这个警报可以被运行来发射损耗警告信号。