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2025-09-25 Thursday
企业难题需求
公开号：
US2008252304A1
大类：
国外
行业类型：
仪器
行业内分类：
医学技术
专利名：
电阻抗X断层成像的系统以及方法
摘要：
本文描述了电阻抗的X断层成像的系统以及方法，通过测方法可以在册精确测量测量目标的电子特性。本发明包括经过从众多与测量目标连接的至少一个电子对向测量目标注入电流，用多个与未被选择电子相连的伏特计测量测量目标的表面电压，根据被测电压的最大值调整伏特计的所测量值，并且根据扩大的电压值画出测量目标的内部结构
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