公开号：	US2008270051A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	医学技术
专利名：	阻抗参数值
摘要：	本文提出了一种利用阻抗分析确定实物参数值的方法。该方法包括使用一个处理系统在阻抗测量的频率对应的数字基础上来确定待测参数。阻抗测量是用来确定参数值的估计的，并在参数值估计基础上，估计确定理论阻抗值。理论阻抗值与实测阻抗值相比，允许至少在一个确定的参数值估计的方向上修改。然后用这来在至少一个参数值估计上修改，参数值都是在部分从一个或多个修改的参数值估计的基础上确定的。