公开号：	US2007002332A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	发明名称：波前测量系统和方法
摘要：	摘要：这里介绍了一种描述物体波阵面特性的装置和方法。同时体现在,该装置包括有:一个在波前的路径上安置的分划板，分划板由两个叠加线性光栅模式组成;至少一个被安置在相对于分划板的光探测器，以接受由波阵面生产的衍射图样;和至少一个处理器，以接收来自光探测器的表征衍射图像的信号，与其相关的衍生产品，并且处理器使用衍生物来描绘上述对象的特性。