公开号：	US2006156147A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测量测试环境下设备群延迟的仪器与方法
摘要：	本发明提供了测量测试环境下设备群延迟的方法。方法包括提供具有预定周期的模拟输入信号给被测设备，以获得一个延迟输出信号，然后改变输入信号和延迟输出信号为第一和第二数字信号，产生一个表征第一第二数字信号相位差的相位差信号，最后根据预定周期和相位差电压信号平均电平计第一数字信号的平均电平来确定被测设备的群延迟。