公开号：	US2006158183A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	用低频光谱获得样品特性的方法和系统
摘要：	本发明叙述了分析样品展示分子旋光度的方法和仪器。为了实现该方法，样品应放在具有地磁和电磁屏蔽的容器中，并向样品添加高斯噪声。在选定的高斯噪声源功率下，在直流和50Hz之间选定的频率范围，通过注入高斯噪声，样品辐射的电磁时域信号被检测到，这个信号被用来产生显示用光谱图，光谱图为样品特性的低频光谱分量。根据这个光谱，表征被测样品特征的一个或多个低频信号成分就被确定了。