公开号：	US2006162472A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	检测容器口密封面的方法和设备
摘要：	本发明叙述了一种用来检测容器口（4）密封面（3）缺陷的方法和设备（65），光源（5）发射光束（22a，22b）到容器口（4），光束为与密封面（3）无冲击的单一方向成分，当照射到密封面（3）的缺陷时，光线会散射，那么至少一些散射光会被探测器（18）探测到。由于光线通过光源（5）和容器口（4）产生的切线方向成分由一个光学探测器（39）处理，探测器（39）对于至少特定波长的光线和相应的反射光（22）是透明的。本发明可以使用简单的方法在探测密封面（3）缺陷的时候来增强对比。