公开号：	US2006234272A1
大类：	国外
行业类型：	化学
行业内分类：	酶或微生物的测定或检验方法及相关疾病预防、治疗
专利名：	利用基因预测组织对电离辐射的敏感性
摘要：	本发明提出了一个辐射敏感性的预测方法，其中包括选择至少增加一个染色体损伤的第一基板和降低染色体损伤相关基因的第二基板。该组织被暴露在辐射之下。该组织RNA的测量是通过测量增加相关的基因染色体损伤的第一基板RNA和与减少的染色体损伤相关基因的第二基板的RNA得到的。辐射敏感性的预测是至少使用增加相关的基因染色体损伤的第一基板RNA和降低染色体损伤相关基因的第二基板RNA中的一种来完成的。