公开号：	US2006163501A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	低通量X射线闪烁系统
摘要：	本发明叙述了用来成像具有1到20千电子伏能量的X射线的闪烁CCD检测系统。探测器不同于目前的系统，它提供了高于千分尺的极高分辨率，以及高达95%的量子检测效率。探测器的设计也允许它具有能量滤波器的功能以去除高能X射线。探测器在包括X射线成像，光谱分析和衍射应用中都很有用。闪光系统由闪光材料构成，具有一个棱镜系统，用来收集闪光材料发出的闪烁光线。基板用来隔离闪光材料和棱镜系统。