公开号：	US2006164100A1
大类：	国外
行业类型：	仪器
行业内分类：	测量
专利名：	测量局部放电的方法和仪器
摘要：	在局部放电的测量过程中，由天线检测的电压传送到光谱分析仪，通过相位分析可以得到工作电压和质谱分析仪电源电压之间的相位差。根据得到的相位差和由信号转换电路输入阻抗产生的电压相移，分析仪屏幕上的时间轴就可以得到补偿。在补偿后，由天线检测的电压被传送到质谱分析仪，与操作电压同步的局部放电波形就可以通过质朴分析仪的相位分析功能得到。